Rev D Document Feedback Information furnished by Analog Devices is believed to be accurate and reliable However no responsibility is assumed by Analog Devices for its use nor for any infringements of patents or other rights of third parties that may result from its use Specifcations subject to change without notice No license is granted by implication or otherwise under any patent or patent rights of Analog Devices Trademarks and registered trademarks are the property of their respective owners One Technology Way P O Box 9106 Norwood MA 02062 9106 U S A Tel 781 329 4700 2009 2013 Analog Devices Inc All rights reserved Technical Support 功能框图 3 AXIS SENSOR SENSE ELECTRONICS DIGITAL FILTER ADXL345 POWER MANAGEMENT CONTROL AND INTERRUPT LOGIC SERIAL I O INT1 VSVDD I O INT2 SDA SDI SDIO SDO ALT ADDRESS SCL SCLK GND ADC 32 LEVEL FIFO CS 07925 001 图1 ADI中文版数据手册是英文版数据手册的译文 敬请谅解翻译中可能存在的语言组织或翻译错误 ADI不对翻译中存在的差异或由此产生的错误负责 如需确认任何词语的准确性 请参考ADI提供 的最新英文版数据手册 3轴 2 g 4 g 8 g 16 g 数字加速度计 ADXL345 特性 超低功耗 VS 2 5 V时 典型值 测量模式下低至23 A 待 机模式下为0 1 A 功耗随带宽自动按比例变化 用户可选的分辨率 10位固定分辨率 全分辨率 分辨率随g范围提高而提高 16 g时高达13位 在所有g范围内保持4 mg LSB的比例系数 正在申请专利的嵌入式存储器管理系统采用FIFO技术 可将 主机处理器负荷降至最低 单振 双振检测 活动 非活动监控 自由落体检测 电源电压范围 2 0 V至3 6 V I O电压范围 1 7 V至VS SPI 3线和4线 和I2C数字接口 灵活的中断模式 可映射到任一中断引脚 通过串行命令可选测量范围 通过串行命令可选带宽 宽温度范围 40 C至 85 抗冲击能力 10 000 g 无铅 符合RoHS标准 小而薄 3 mm 5 mm 1 mm LGA封装 应用 手机 医疗仪器 游戏和定点设备 工业仪器仪表 个人导航设备 硬盘驱动器 HDD 保护 概述 ADXL345是一款小而薄的超低功耗3轴加速度计 分辨率 高 13位 测量范围达 16 g 数字输出数据为16位二进制补 码格式 可通过SPI 3线或4线 或I2C数字接口访问 ADXL345非常适合移动设备应用 它可以在倾斜检测应用 中测量静态重力加速度 还可以测量运动或冲击导致的动 态加速度 其高分辨率 3 9 mg LSB 能够测量不到1 0 的倾 斜角度变化 该器件提供多种特殊检测功能 活动和非活动检测功能通 过比较任意轴上的加速度与用户设置的阈值来检测有无运 动发生 敲击检测功能可以检测任意方向的单振和双振动 作 自由落体检测功能可以检测器件是否正在掉落 这些 功能可以独立映射到两个中断输出引脚中的一个 正在申 请专利的集成式存储器管理系统采用一个32级先进先出 FIFO 缓冲器 可用于存储数据 从而将主机处理器负荷 降至最低 并降低整体系统功耗 低功耗模式支持基于运动的智能电源管理 从而以极低的 功耗进行阈值感测和运动加速度测量 ADXL345采用3 mm 5 mm 1 mm 14引脚小型超薄塑料 封装 Rev D Page 2 of 40 目录 ADXL345 特性 1 应用 1 概述 1 功能框图 1 修订历史 3 技术规格 4 绝对最大额定值 6 热阻 6 封装信息 6 ESD警告 6 引脚配置和功能描述 7 典型性能参数 8 工作原理 13 电源时序 13 省电 14 串行通信 15 SPI 15 I2C 18 中断 20 FIFO 21 自测 22 寄存器图 23 寄存器定义 24 应用信息 28 电源去耦 28 机械安装注意事项 28 敲击检测 28 阈值 29 链接模式 29 休眠模式与低功耗模式 30 偏移校准 30 使用自测功能 31 高位数据速率的数据格式化 32 噪声性能 33 非2 5伏电压下的操作 33 最低数据速率时的偏移性能 34 加速度灵敏度轴 35 布局和设计建议 36 外形尺寸 37 订购指南 37 Rev D Page 3 of 40 ADXL345 修订历史 2013年2月 修订版C至修订版D 更改图13 图14和图15 9 更改表15 22 2011年5月 修订版B至修订版C 增加 防止总线流量错误 部分 15 更改图37 图38和图39 16 更改表12 19 更改 使用自测 部分 31 更改 加速度灵敏度轴 部分 35 2010年11月 修订版A至修订版B 更改表1中的 Z轴0 g偏移与温度的关系参数 4 更改图10至图15 9 更改 订购指南 37 2010年4月 修订版0至修订版A 更改特性部分和概述部分 1 更改技术规格部分 3 更改表2和表3 5 增加封装信息部分 图2和表4 重新排序 5 更改表5的引脚12描述 6 增加典型性能参数部分 7 更改工作原理和电源时序部分 12 更改省电部分 表7 表8 自动休眠模式部分和待机模式 部分 13 更改SPI部分 14 更改图36至图38 15 更改表9和表10 16 更改I2C部分和表11 17 更改表12 18 更改中断 活动 静止 自由落体部分 19 增加表13 19 更改FIFO部分 20 更改自测部分和表15至表18 21 增加图42和表14 21 更改表19 22 更改寄存器0 x1D THRESH TAP 读 写 部分 寄存器0 x1E 寄存0 x1F 寄存器0 x20 OFSX OFSY OSXZ 读 写 部分 寄存器0 x21 DUR 读 写 部分 寄存器0 x22 Latent 读 写 部 分以及寄存器0 x 23 Window 读 写 部分 23 更改ACT X启用位 INACT X启用位部分 寄存器0 x28 THRESH FF 读 写 部分 寄存器0 x29 TIME FF 读 写 部 分 Asleep位部分和AUTO SLEEP位部分 24 更改休眠位部分 25 更改电源去耦部分 机械安装注意事项部分及敲击检测 部分 27 更改阈值部分 28 更改休眠模式与低功耗模式部分 29 增加偏移校准部分 29 更改使用自测部分 30 增加高位数据速率的数据格式化部分 图48和图49 31 增加噪声性能部分 图50至图52 及非2 5伏电压下的操作 部分 32 增加最低数据速率时的偏移性能部分 图53至图55 33 2009年6月 版本0 初始版 Rev D Page 4 of 40 技术规格 除非另有说明 TA 25 C VS 2 5 V VDD I O 1 8 V 加速度 0 g CS 10 F钽电容 CI O 0 1 F 输出数据速率 ODR 800Hz 保证所有最低和最高技术规格 无法保证典型技术规格 表1 参数 测试条件 最小值 典型值1 最大值 单位 传感器输入 各轴 测量范围 用户可选 2 4 8 16 g 非线性度 满量程百分比 0 5 轴间对齐误差 0 1 度 跨轴灵敏度2 1 输出分辨率 各轴 所有g范围 10位分辨率 10 位 2 g范围 全分辨率 10 位 4 g范围 全分辨率 11 位 8 g范围 全分辨率 12 位 16 g范围 全分辨率 13 位 灵敏度 各轴 XOUT YOUT ZOUT灵敏度 所有g范围 全分辨率 230 256 282 LSB g 2 g 10位分辨率 230 256 282 LSB g 4 g 10位分辨率 115 128 141 LSB g 8 g 10位分辨率 57 64 71 LSB g 16 g 10位分辨率 29 32 35 LSB g 相对于理想值的灵敏度偏差 所有g范围 1 0 XOUT YOUT和ZOUT比例因子所有g范围 全分辨率 3 5 3 9 4 3 mg LSB 2 g 10位分辨率 3 5 3 9 4 3 mg LSB 4 g 10位分辨率 7 1 7 8 8 7 mg LSB 8 g 10位分辨率 14 1 15 6 17 5 mg LSB 16 g 10位分辨率 28 6 31 2 34 5 mg LSB 温度引起的灵敏度变化 0 01 C 0 g偏移 各轴 XOUT和YOUT的0 g输出 150 0 150 mg ZOUT的0 g输出 250 0 250 mg 相对于理想值的0 g输出偏差 XOUT YOUT 35 mg 相对于理想值的0 g输出偏差 ZOUT 40 mg X轴和Y轴的0 g偏移与温度的关系 0 4 mg C Z轴的0 g偏移与温度的关系 1 2 mg C 噪声 X轴和Y轴 2 g 10位分辨率或所有g范围 全分辨率 ODR 100 Hz 0 75 LSB rms Z轴 2 g 10位分辨率或所有g范围 全分辨率 ODR 100 Hz 1 1 LSB rms 输出数据速率和带宽 用户可选 输出数据速率 ODR 3 4 5 0 1 3200 Hz 自测6 X轴上的输出变化 0 20 2 10 g Y轴上的输出变化 2 10 0 20 g Z轴上的输出变化 0 30 3 40 g 电源 工作电压范围 VS 2 0 2 5 3 6 V 接口电压范围 VDD I O 1 7 1 8 VS V 电源电流 ODR 100 Hz 140 A ODR 10 Hz 30 A 待机模式漏电流 0 1 A 开启时间和唤醒时间7ODR 3200 Hz 1 4 ms ADXL345 Rev D Page 5 of 40 参数 测试条件 最小值 典型值1 最大值 单位 温度 工作温度范围 40 85 C 重量 器件重量 30 mg ADXL345 1 除了0 g输出和灵敏度以外 所示典型技术规格至少为零件总体的68 并基于平均 1 最差情况 表示为目标值 对于0 g偏移和灵敏度 相对于理想值的偏差 描述了平均 1 的最差情况 2 跨轴灵敏度定义为任意两轴之间的耦合 3 带宽为 3 dB频率 为输出数据速率的一半 带宽 ODR 2 4 3200 Hz和1600 Hz ODR的输出格式与其他ODR的输出格式不同 高位数据速率的数据格式化 部分描述了此差异 5 输出数据速率低于6 25 Hz时 表示额外偏移随温度的增加而变化 取决于选定的输出数据速率 详情请参阅 最低数据速率时的偏移性能 部分 6 自测变化定义为SELF TEST位 1 在DATA FORMAT寄存器上 地址0 x31 时的输出 g 减去SELF TEST位 0时的输出 g 由于器件过滤的作用 启用或禁用自测 时 输出在4 后达到最终值 其中 1 数据速率 器件必须在正常功率下操作 LOW POWER位 0 在BW RATE寄存器内 地址0 x2C 以便自测正常运行 7 开启和唤醒时间取决于用户定义的