良率异常不良品分析 日期: Jul, 24,Draft By: 何修建/劉詠濤 Date: July 24 09,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 1 2 3 4- 5,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 36-39 40,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 51-52 53 54 55,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 16 17 18 19 20,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 41-43 44 45,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 21-23 24-25,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 6 7-8 9 10,良率异常不良品分析 日期: Jul, 23,Draft By: 刘咏涛 Date: July 1709,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 36 37 38 39 40,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 51-52 53 54 55,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 1 2 3 4 5,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 41 42 43 44 45,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 26 27 28 29 30,良率异常不良品分析 日期: Jul, 23,Draft By: 刘咏涛 Date: July 1709,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 46 47 48 49 50,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 31-32 33 34 35,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 11 12 13 14 15,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 63-64,多层板良率异常分析,良率异常不良品分析 日期: Jul, 22,Draft By: 刘咏涛 Date: July 1709,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片: 16 17 18 19 20,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 21 22 23 24 25,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 26 27 28 29 30,单面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 31 32 33 34 35,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 36 37 38 39,双面板良率异常分析,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,图片： 40 41 42,双面板良率异常分析,1.单面板皱折.菲林下面有杂物导致蚀刻断线开路 原因分析及改善对策 日期: Jul, 24,Draft By:chen Date: July 2409,2.单面板孔边压痕翻边分析及改善 日期: Jul, 23,Draft By: Date: July 2409,单面板孔边压痕翻边分析及改善,3.電測不良分析報告 日期: Jul, 24,Draft By:黃壽坤 Date: July 2409,原因分类: W 人员 ; P 制程；M材料；D设计；E环境,電測不良分析報告c,4.电镀不良分析報告 日期: Jul, 24,Draft By:苏文东 Date: July 2409,制三课金面不良改善报告,5.制二课不良分析報告 日期: Jul, 24,Draft By:夏冬梅 Date: July 2409,制二课不良分析报告,单面板皱折.菲林下面有杂物导致蚀刻断线开路原因分析及改善对策,6.成检课混板分析報告 日期: Jul, 24,Draft By:彭威/夏冬梅 Date: July 2409,成检混板分析报告,