Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 1 页，共 3 页变更经历修订号 日期 变更内容 修订者编制 审核 批准 日期 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 2 页，共 3 页一、目的：本文档主要描述了整机测试金机的使用方法，并用来校准整机测试外部衰减。因装备夹具中的射频电缆属于易损部件，在经过一段时间的磨损后，对于测试指标会产生一定的影响，所以终端装备夹具在使用一段时间后，必须要经过重新校准，以确保生产测试指标。二、金机校准方法：（一）概述使用条件射频衰减校准必须符合R&D或客户输入文件定义的标准。以下任何一种情况必须使用金机重新校准。射频线缆的更换。射频仪器如综测仪的更换。夹具和屏蔽盒的更换。每班射频衰减校准主要测量综测仪射频电缆屏蔽盒夹具手机 通路上的射频衰减值。采用金机的校准方法，金机制作方法见附录。（二）校准仪器主要需要以下仪器和附件射频线缆整机测试系统射频校准金机 1 个（三）金机使用校准流程金机值如下（示例）每个金机值都标明了整机测试工位各射频测试项参数值，如：WCDMA GSM22.2Db 33Db校准误差以客户文件“金机测试标准”为依据调校。校准步骤操作指引- 1、把金机放入测试台进行测试- 2、记录测试结果- 3、与金机比较算出差值- 4、重复步骤 1、2、3 两次，算出另两个差值。- 5、算出三个差值的平均值- 6、将平均值补偿入测试系统- 7、检查差值- 如果测量出来的发射最大差值不超过 2dB，且衰减补偿在正常范围之内，就认为装备和衰减补偿 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 3 页，共 3 页正确，否则进行再校准，重复步骤 1、2、3、4、5、6 再校准。如果达不到上述要求，换一部金机验证。- 8、将新衰减值填入测试程序属性页衰减补偿处。校准判断：1、如果金机校准在误差范围之内，测试系统良好，可以生产。2、如果金机的校准超出误差范围，则可以判断为测试系统问题，需要对测试装备检查、维护、分析。三、注意事项金机的有效期为 6 个月，超过 6 个月要求采用新的金机进行校准。使用过程中，发现金机失效，及时更换。四、附录整机测试金机制作指导书方法一：单板测试获得金机值1.1 特点操作简单不需要额外的设备和电缆不够准确利用整机测试的射频指标值都在单板测试测量处测量的方法获得金机值1.2 制作准备已校准的单板测试系统射频指标稳定的单板1.3 制作方法- 1、记录整机测试需要测试的射频测试项- 2、对单板测试系统进行校准- 3、选取单板进行单板校准测试- 4、对单板进行综测记录整机测试需要的射频指标值- 5、重复进行 9 次单板测量，记录整机测试需要的射频指标值- 6、如果 10 次测试值 MAX-MIN 不大于 2dB。那么平均值就是金机值。 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 4 页，共 3 页- 7、如果不是，重新选取单板，重复步骤 16。- 8、将金机单板和好的结构件、天线组装后就是通过了后续工位测试就成了金机。示例如下：U626 金机测试值序号 WCDMA GSM1 21.998 19.0752 22.002 19.04933 21.9067 19.06814 21.9903 19.09925 21.9723 19.07576 22.0157 19.02887 21.9913 19.03378 21.9736 19.02859 22.0989 19.030410 22.0909 18.9765aveg 22.00 19.04max 22.10 19.10min 21.91 18.98max-min 0.19 0.12方法二：利用综测仪测试获得金机值2.1 特点操作简单只需要简单的电缆和接头较准确利用综测仪控制手机发射接收，并利用综测仪手动测试获得整机测试指标值2.2 制作准备整机测试系统（包括射频电缆、综测仪）射频指标稳定的整机、电池、SIM 卡射频电缆和射频接头2.3 制作方法- 1、记录整机测试需要测试的射频测试项- 2、综测仪预热 15 分钟以上- 3、选取整机插上 SIM 卡，通过单板上的射频接口有线上综测仪注册。- 4、利用综测仪手动测试整机射频指标值并记录- 5、重复进行 9 次整机测量，记录整机测试需要的射频指标值 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 5 页，共 3 页- 6、如果 10 次测试值 MAX-MIN 不大于 2dB。那么平均值就是金机值。- 7、如果不是，重新选取整机，重复步骤 16。示例如下：射频接口和射频线 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 6 页，共 3 页连上综测仪手动注册测试（线路衰减约 0.1dB） Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 7 页，共 3 页方法三：单板测试获得金机值3.1 特点操作较复杂需要维修后台控制软件和功率计准确利用维修后台软件控制手机发射接收，功率计测量。3.2 制作准备后台维修控制软件射频指标稳定的单板和射频线以及焊接设备3.3 制作方法- 1、记录整机测试需要测试的射频测试项- 2、功率计预热 15 分钟以上，清零，自校准- 3、选取单板在单板天线接触点焊上射频电缆- 4、装上壳件利用后台控制软件控制手机发射接收，功率计测量整机射频指标值并记录。- 5、重复进行 9 次整机测量，记录整机测试需要的射频指标值- 6、如果 10 次测试值 MAX-MIN 不大于 2dB。那么平均值就是金机值 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 8 页，共 3 页- 7、装上良好的结构和天线通过后续测试工位（MMI，整机测试）后整机测试金机- 8、如果不是，重新选取单板，重复步骤 16。示例如下：将带 SMA 连接头的同轴电缆和焊在天线接口处（衰减约 0.1dB）,注意焊接牢固良好。装上壳件如下图所示：用下图类似方法手动（配合后台维修软件）测量其功率值 Meizhou Guo Wei Plastic Mould Technology Co.,Ltd.工程部运作程序 文件号:SGW-WI-PRO-011 版本号 0.0 修订号 00金机日常校准操作指引 生效日期 2013-10-8 第 9 页，共 3 页多次测量得到如下所示功率值（示例）D11AD10552100188序号 WCDMA GSM1 22.25 18.532 22.24 18.543 22.23 18.554 22.23 18.545 22.26 18.556 22.24 18.547 22.24 18.548 22.23 18.559 22.22 18.5510 22.23 18.56aveg 22.24 18.54