美国 SINTON 少子寿命测试仪准稳态光导寿命测试仪系统构成分为二大功能部分：一为准稳态光电导少子寿命测试部分；二为Suns-Voc 功能测试部分；。对三部分各自的技术指标及构成要求如下：1. 准稳态光电导少子寿命测试部分：1）测量原理 QSSPC （准稳态光电导）2）少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 3）测试模式：QSSPC, 瞬态，寿命归一化分析4）电阻率测量范围 0.2 600 (undoped) Ohms/sq. 5）注入范围：1013-1016cm-36）感测器范围直径 40-mm 7）测量样品规格标准直径 : 40 210 mm （或更小尺寸）8）测试样片厚度范围 10 2000m 9）外界环境温度 20 C25C 10）通用电源电压 100 240 VAC，60 Hz 11）该部分系统构成：1少子寿命测试主机，信号接线盒及信号线；2含带通滤光片的程控闪光灯； 3安装配置有如下软件的计算机系统:Windows OS；MS office；4 数据采集及分析软件包； 5数据采集卡，双通道，共模抑制；以及其它完成该测试功能所必须的构成硬件及软件。2.Suns-Voc 功能部分1）该部分应可进行如下参数的测试分析：太阳电池片开路状态下的隐IV 曲线， 通过该测试可得到材料所能获得的最高效率（implied IV curve at open circuit:materials limit to effeciency）；伪效率（ pseudo-efficiency）；伪填充因子（pseudo fill factor）；二极管分析（ two-diode analysis）；分流值（ shunt value）。2）标准照明的范围：0.01-6suns （AM1.5）。3）Suns-Voc 系统特征为：电压探针高精确度；兼容磁性探针；配备全套浓度补正滤色片的疝气灯； 可准确调制亮度； 使用标准的IV 曲线图及Suns-Voc 曲线图；不受串联电阻的影响，测定晶片特征。