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美国 SINTON 少子寿命测试仪准稳态光导寿命测试仪系统构成分为二大功能部分:一为准稳态光电导少子寿命测试部分;二为Suns-Voc 功能测试部分;。对三部分各自的技术指标及构成要求如下:1. 准稳态光电导少子寿命测试部分:1)测量原理 QSSPC (准稳态光电导)2)少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 3)测试模式:QSSPC, 瞬态,寿命归一化分析4)电阻率测量范围 0.2 600 (undoped) Ohms/sq. 5)注入范围:1013-1016cm-36)感测器范围直径 40-mm 7)测量样品规格标准直径 : 40 210 mm (或更小尺寸)8)测试样片厚度范围 10 2000m 9)外界环境温度 20 C25C 10)通用电源电压 100 240 VAC,60 Hz 11)该部分系统构成:1少子寿命测试主机,信号接线盒及信号线;2含带通滤光片的程控闪光灯; 3安装配置有如下软件的计算机系统:Windows OS;MS office;4 数据采集及分析软件包; 5数据采集卡,双通道,共模抑制;以及其它完成该测试功能所必须的构成硬件及软件。2.Suns-Voc 功能部分1)该部分应可进行如下参数的测试分析:太阳电池片开路状态下的隐IV 曲线, 通过该测试可得到材料所能获得的最高效率(implied IV curve at open circuit:materials limit to effeciency);伪效率( pseudo-efficiency);伪填充因子(pseudo fill factor);二极管分析( two-diode analysis);分流值( shunt value)。2)标准照明的范围:0.01-6suns (AM1.5)。3)Suns-Voc 系统特征为:电压探针高精确度;兼容磁性探针;配备全套浓度补正滤色片的疝气灯; 可准确调制亮度; 使用标准的IV 曲线图及Suns-Voc 曲线图;不受串联电阻的影响,测定晶片特征。
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