TEMPERATURE & HUMIDITYAND FAILURE ANALYSISBYRE ENVIRONMENT TEAMFeb 26, 2002 Feb 26, 2002 12CONTENTS基本概念 (温度,湿度) 温湿度引起的失效分析 温湿度筛选测试 简介与分析 分系统热循环试验 避免元器件过热设计 环境测试中断处理 Summary 3温 度 溫度和熱是相當不同的概念。溫度通常 是與組成物質內粒子之平均動能相關； 而熱是由於二點間溫度差所造成一種能 量的流動。 从某种意义上来说我们可以把温度定义 为一种物体的性质，也就是我们对物质 的冷热的感受程度。4湿空气 干空气 饱和湿空气 湿空气 含有水蒸气的空气 干空气不含有水蒸气的空气 饱和湿空气干空气和饱和水蒸气组成的混合气体.饱和湿空气中的 水蒸气的含量已达到最大限度,除非提高温度,否则饱 和湿空气中水蒸气的含量不会再增加 5湿 度绝对湿度 每1m3的湿空气中所含有的水蒸气的质量称为湿空气的绝对湿度 相对湿度 湿空气的绝对湿度v与同温度下饱和湿 空气的绝对湿度”之比 =v /”=v /max= Pv / Ps6温湿度引起的失效环 境主要效应引起的主要失效高温热老化： 氧化 结构改变化学反应 软化、熔化和升华 降低粘性蒸发 物理膨胀绝缘失效： 电特性改变。 结构失效。润滑特性损失。结构失效：机械应力增加；活 动部件的磨损增加；低温粘性增加和固化 冰形成 碎裂 物理收缩润滑特性损失。 电特性改变。 机械强度损失；裂纹，破裂 结构失效：活动部件磨损增加7温湿度引起的失效高湿 度潮气吸收化学反应腐 蚀电解容器增大，破裂；物理分解； 电强度损失；机械强度损失； 功能干扰；电特性损失；绝缘体 导通性增加。低湿 度干燥碎裂表面粗糙机械强度损失；结构瓦解； 电特性改变，“涂灰”(dusting) 。 温度 冲击机械应力结构瓦解或强度减弱：密封损坏 。8温湿度引起的失效分析元器件出现的故障可能的原因半导体封装破裂EOS、过热EOS损坏使用时超过强度工作状态，潮湿或 污染物侵入机械性的破裂塑料封装、金属引线或管芯过热而 膨胀器件内部连线断裂EOS或热冲击器件内部汽泡芯片基底的结合失效，过热金属导电部分损坏ESD、腐蚀、EOS、温度小丘形成温度周期起伏EOS :电气过载 Continued9温湿度引起的失效分析电阻表面导体断裂机械或过热冲击变值过载应用，在潮湿和高温下工作电容电解电容中电解液泄 漏高温，封装缺陷变值由于高温或老化而导致电解质降级电容体破裂过热、EOS、电容体质量不好线圈开路故障EOS，过热印制电路板变色焊接时或由高温元器件传来的热量 过大脱层焊接时或高温元器件辐射的热量过 大 起泡高温10温湿度筛选测试 简介高温老化测试 温度循环方法通过轮流向元器件施以低温和高温来 检测其缺陷 高温储存可使元器件面临比老化测试更高的温度， 且无需对元器件施加电源 高温时所作的寿命测试有助于评估元器件长期在 高温下工作的后果 热冲击测试可评估元器件对极限温度和循环处于极 限温度时的耐受力 11温湿度筛选测试 分析筛选测试检测缺陷项目温度周期性变化封装外壳缺陷、基底开裂、管芯基片问题高温储藏接触缺陷、湿气侵入、氧化、金属部份缺陷、热寿命、软化、 物理变化 高温老化表面和金属部份故障、导线粘合故障湿度测试湿气吸收、腐蚀、化学反应食盐喷洒防腐蚀、模仿海岸气候防止受潮测试防止腐蚀、受湿度的影响水浸密封蚀陷、金属腐蚀 抗焊接热测试电特性变化、热降级、由于热应力引起的机械压力泄漏测试封装密封缺陷等加速度试验基底破裂、粘合缺陷、粘着故障热冲击热机械强度引起密封损坏、结构元器件故障12分系统热循环试验阶段及其目的 鉴定热循环试验 目的是鉴定组件或分系统在鉴定温度范围内的 工作能力 验收热循环试验 目的是使组件或分系统经受热循环环境来检测 出材料、加工和制造质量的缺陷 共同目的:对产品进行温度应力筛选，暴露出因零 件、材料和制造工艺中潜在缺陷造成的早期故障 13分系统热循环试验中出现结露问题的危害 电子设备的绝缘电阻下降、漏电增 加，严重时出现飞弧,击穿和电路损 坏等现象 在电、潮湿和温度的共同作用下引 起电化学反应和金属化腐蚀，导致 部件或分系统内部组件金属化系统 的失效 14分系统热循环试验防结露措施 采用密封塑料薄膜 较为经济实用 ,但对存在较大腔体的非密封性结构的 分系统进行热循环试验时,在热循环试验之前应采取高 温预烘烤等措施,排除分系统内部腔体中的水汽,防止 机壳内部产生结露组件造成损伤 在容器内充满干燥空气或氮气 最后半个循环应为热循环,进一步减少分系统内部水汽 残留.对热循环试验箱的密封性有一定的要求 15避免元器件过热设计 简介 制作电子电路时，热量是影响所有类型元 器件的一个重要因素 商用半导体器件的结温极限约为150C 使用散热片和散热扇并在外壳上提供通风 孔来保持器件较低的结温 温度会加速大多数半导体器件产生故障， 大多数故障产生机制都与温度有关。某些器 件过热的共同原因是EOS和ESD 16产品开发初期控制热量的成本最低 元器件的选择应能满足应用要求和 工作温度条件 采用筛选测试结果在耐热方面具有 良好特性的元器件 对元器件参数进行足够的减载运行 使得元器件不会在技术参数的极限 值附近被损坏 Continued17产品开发初期控制热量的成本最低确保用户即使在最差的环境条件下，器件 的结温也不会超出极限值 必要时提供足够的散热装置以保持器件温 度较低，并应在散热装置和发热器件周围 保持通风 在必须连续工作的大功率设备中采用强制 风冷 将半导体器件的结温限制在125C左右 热量设计的目的是以最小的代价获取最佳 的制冷效果 18避免元器件过热设计方法 热敏感元器件（如半导体器件等）远离热源（ 大功率电阻、大功率晶体管等） 保证良好的通风散热,如安装散热片,设置通风 孔,必要时采用强制风冷,确保器件在其SOA范围内 工作,器件结温在极限范围之内等 对器件热性能指标减载运行,通常80%的减载对 降低结温和减少功耗较好 用软件对设计的电路板进行热量仿真 SOA : Safe Operation Area19环境测试中断的原因 产品在做温度试验期间，由于主、客观原因有可能使试验中断.可分为两种情况: 由于试验样品的故障使试验必须中 断由于试验设备的原因造成试验中断 20环境测试中断情况及其处理方法 容差范围内的中断 当中断期间试验条件没有超出允许误差范围时，中断时间应作为 总试验时间的一部分 欠试验条件中断 对欠试验条件的中断，当试验条件低于允许误差下限时，应从低 于试验条件的点重新达到预先规定的试验条件，恢复试验，一直 进行到完成预定的试验周期 过试验条件中断 对过试验样品重做，如果过试验条件不会直接造成影响试验条件 中断处理，如果以后试验中出现试验样品失效，则应认为此试验 结果无效 21实际工作中对试验中断所采取的方法 对因试验样品的故障引起的试验中断 采用待试验样品修复后重新试验的方法 对于因试验设备的原因(如突然停水、停 电、设备故障等)而引起的试验中断 如果中断时间不是很长(2小时以内),我们通常 按照GJB 150中规定的欠试验条件中断进行处 理,如果时间过长,这项试验必须重做 22应用试验中断处理的规定的依据 由试验样品温度稳定的规定来决定的 试验温度下的持续时间以试验样品在该温度下达到温度稳定为准 试验样品内部温度达到热平衡与其表面达到热平衡的时间存在一个 时滞，这个时滞就是温度稳定时间实际工作中，我们就以2小时当作温度稳定时间 试验过程中,如果遇到突然停水,停电或试验 设备故障的情况,我们首先应密闭试验箱门试验设备突然停止运行时，只要密闭箱门，试验箱门的温度不会急剧地 变化，在时间很短的情况下，试验样品内部的温度也不会有太大的变化 23Summary 随着产品的小型化,产品在使用过程中会遇 到比以前更加严苛的环境,这时环境测试就 尤为重要,通过环境测试可以排除一些设计 上存在的瑕疵,保证产品能在实际使用环境 下正常工作,大大提高产品的可靠度 在这篇报告中,我们首先讲述了温湿度的基 本概念,然后就温湿度引起的失效进行分析 ,之后就一些测试相关的项目做了一些补充 介绍.希望这个报告能拋砖引玉,对大家的 工作有一定帮助 24The End