MLCMLC 项目通信传输系统项目通信传输系统 光缆测试报告光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010 年 7 月 21 日 一、一、光缆测试说明光缆测试说明 1 1、通信系统说明通信系统说明 MLC 项目配套工程包括通信传输系统，由 MLC 在 TCC 通信机房、小营/西直门 MLC 机 房分别新设一套 2.5G 传输设备，三套传输设备通过光缆组成 4 芯复用段保护环网，通 过 TCC 既有配线架与各线 OCC 在 TCC 设置的传输设备业务层互联。MLC 新设的传输设备 通过 TCC 既有 ODF 与 MLC 机房新设 ODF 通过光缆连接，实现各线 LC 业务接入 MLC。 2 2、光纤使用说明光纤使用说明 1）西直门 8 层 MLC 机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心） ， 占用南环 4 芯光纤； 2）西直门 8 层 MLC 机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设 备，占用北环 4 芯光纤； 3）京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备，新敷设 1 根 24 芯光纤； 4）西直门 8 层 MLC 机房（灾备中心）至西直门 7 层通信机房（南环、北环均在此 处上光纤配线架） ，新敷设 1 根 24 芯光纤； 5）京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心）至京投大厦西辅楼 B1 层通信配线间 （南环在此处上光纤配线架） ，新敷设 1 根 24 芯光纤； 6）京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心）至京投大厦西辅楼 7 层配线间，新 敷设 2 根 4 芯多模光缆。 （此处的 2 根 4 芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务 器与工作站交换机之间的多模光缆） ； 此次测试针对以上 6 部分进行。 3 3、测试仪器测试仪器 采用信维牌 OTDR（光时域反射仪） ，具体型号为 S20。 4 4、相关图纸相关图纸 MLC 项目通信系统光纤传输路由图 二、二、光缆测试内容光缆测试内容 光缆测试包括以下内容： 光缆熔接损耗（MLC 项目中的光缆熔接点） ； 3 处 MLC 通信设备之间光纤传输链路的光衰减； 具体说明如下： 光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的 1 根 24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 4 芯多模光缆； 3 处 MLC 通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门 8 层 MLC 通信设备与京投大 厦西辅楼一层 MLC 通信设备之间的链路衰减；西直门 8 层 MLC 通信设备与京投大厦东 辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层 MLC 通信设备 与京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备之间的链路衰减； 三、三、测试目的测试目的 序号序号测试内容测试内容测试目的测试目的合格标准合格标准备注备注 1 光缆熔接损耗检查光纤熔接质量 每个熔接点损耗 0.08dB 光纤熔接规范 2 西直门 8 层 MLC 通信设备与 京投大厦西辅楼一层 MLC 通 信设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量25dB 通信设备对光衰 减的要求 3 西直门 8 层 MLC 通信设备与 京投大厦东辅楼三层 TCC 机 房 MLC 通信设备之间的链路 衰减 检查光纤链路质量25dB 通信设备对光衰 减的要求 4 京投大厦西辅楼一层 MLC 通 信设备与京投大厦东辅楼三 层 TCC 机房 MLC 通信设备之 间的链路衰减 检查光纤链路质量15dB 通信设备对光衰 减的要求 四、四、光缆测试光缆测试记录记录 1 1、西直门新敷设西直门新敷设 1 1 根根 2424 芯光纤熔接质量测试记录芯光纤熔接质量测试记录 在西直门 8 层 MLC 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在西直门 7 层通信配线间，对本项目敷设的 24 芯光纤进行反 向测试；测试结果如下： 测试地点：测试地点：8 8 层层 MLCMLC 机房机房 测试地点：测试地点：7 7 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 2. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 3. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 4. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 5. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 6. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 7. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 8. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 9. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 10. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 11. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 12. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 13. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：测试地点：8 8 层层 MLCMLC 机房机房 测试地点：测试地点：7 7 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 14. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 15. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 16. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 17. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 18. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 19. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 20. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 21. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 22. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 23. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 24. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 2 2、京投大厦新敷设京投大厦新敷设 2 2 根根 2424 芯光纤熔接质量测试记录芯光纤熔接质量测试记录 在京投大厦西辅楼一层 MLC 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 B1 层通信配线间，对本项目敷设 的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下： 测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房 测试地点：测试地点：B1B1 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 B1B1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 2. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 3. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 4. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 5. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 6. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 7. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 8. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 9. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 10. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 11. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 12. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 13. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 14. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房 测试地点：测试地点：B1B1 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 B1B1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 15. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 16. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 17. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 18. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 19. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 20. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 21. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 22. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 23. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 24. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 在京投大厦西辅楼一层 MLC 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼 3 层通信配线间，对本项目敷设 的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下： 测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：3 3 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 3 3 层熔接点损层熔接点损 耗耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 2. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 3. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 4. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 5. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 6. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 7. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 8. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 9. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 10. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 11. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 12. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 13. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 14. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 15. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 16. 每个熔接点损耗0.08dB是 否 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：