GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,製程能力分析,凌達光電品質訓練,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,大綱,名詞解釋 製程能力分析步驟,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,變异,一般與特殊原因,一般原因:製程中某些微小而不可避免的原因,現象所此造成之分配與時間的關系是穩定而可重複,可預測的.,特殊原因:製程中不常發生但造成製程變异的原因,此現象所造成之分配與時間的關系是不穩定且無法預期的,名詞解釋,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,製程能力,當我們的製程處于穩定狀態時,即對製程進行研究分出一般原因與特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此時的製程狀況處于穩定狀態即是我們所謂的製程能力,偵查製程是否處于穩定狀態,需要借助于管制圖,通過管制圖找出一般原因與特殊原因,确定製程狀況,方可進行製程能力分析,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,製程准确度Ca(Capability of accuracy),生產中所獲得產品資料的實績平均值(X)與規格中心值(u)其間偏差的程度即稱之為(製程准确度),即衡量製程平均值與規格中心值兩者間的一致性,Ca=,實際平均值-規格中心值,規格公差/2,*100%,=,(x-u)/T/2*100%,注明:當為單邊規格時無Ca值,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,Ca值的評估,Ca值越小,品質越佳,為了便于區分製程實績值(X)的好坏一般將Ca值分成4個等級作為評估的標准.,A級:理想的狀態故維持現狀 B級:盡可能調整改進為A級 C級:應立即檢討並予以改善 D級:采取緊急措施,並全面檢討,必要時應考慮停止生產,Ca反應工序實際平均值與規格中心值之間的差异,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,UCL,LCL,規格中心值,製成平均值,Ca=23%,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,製程精密度Cp(Capability of precision),以規格公差(T)與自生產中所獲得產品資料的6個估計績標准差()其間相差程度,即在衡量規格公差範圍與製程變异寬度兩者之間相差的程度,Cp值=,規格公差,6個估計實績標准差,=T/6,雙邊規格時,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,Cp值=,規格上限-平均值,3個估計實績標准差,= USL-X/3,Cp值=,3個估計實績標准差,= X-LSL/3,單邊規格時,規格下限-平均值,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,Cp值的評估,Cp值越大,品質越佳,為了便于區分製程實績估計標准差的好坏,一般將Cp值分成5個等級作為評估的標准.,A+級: 產品變异如大一些也不要緊,考慮管理的簡單化 或成本降低方法,A級: 理想的狀態故維持現狀,B級: 确實進行製程管理,使其保持在管制狀態,當Cp 接近於1時,恐怕會產生不良品,盡可能改善為A 級,C級: 生產不良品,產品須全數選別,並管理,改善製程,D級: 品質無法在滿足的狀態,須進行品質的改善,探 求原因.須要採取緊急對策,並重新檢討規格,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,u,LSL,USL,Cp說明尺寸分布的范圍大小並不說明尺寸分布跼中心位置的遠近,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,規格中心值,製成中心值,製成中心值,Cp=1,製程能力指數Cpk,將Ca與Cp兩值同時參考而對製程作一個客觀評价的指標即Cpk,既考慮到變异的寬度,又考慮實績平均值與規格中心值兩者的比較.,其計算公式有兩种,Cpk = (1-K),T,6,= (1- | Ca | )Cp,K=,| X-u |,T/2,= | Ca |,(1),GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,當Ca = 0 時 Cpk = Cp (單邊規格時,Cpk即以Cp值計之), =,R,d2,(2),Cpk =,Zmin,3,Zmin = Su-X 與 -(Sl-X) 的最小值,d2之參考表,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,(1),(2) =,i=1,n,(Xi-X),n-1,(X為所有數据之平均值), =,R,d2,Zmin = Su-X 與 -(Sl-X) 的最小值,i=1,n,(Xi-X),n-1,=,3,示例:,在內胎壓出工程其長度規格為750+/-10mm,而十一月份壓出工程長度之實際平均值為749mm,實際估計標准差為4mm ,計算十一月份之Ca, Cp, Cpk為何?,十一月份Ca 值 =,(x-u)/T/2*100% =(749-750)/10*100%=-10%(A級),Cp = T/6 =20/6*4=0.83(C級),Cpk = Cp*(1-|Ca| ) =0.83*(1- | -10% | ) = 0.747(C級),GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,示例:,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,Process Capability,製程能力分析步驟,确切了解要調查的品質特性與調查範圍 确定製程是處于穩定的狀態 計算製程能力指數 判斷製程能力是否足夠,如不足時,則加以改善,這四個步驟可以循環使用,直到獲得滿意的製程能力為止.,GIANTPLUS OPTOELECTRONICS,