1 2. 四种基本类型的空间点阵的特点? 按质点再晶体种的分布 :简单格只有以个结点（ 0、0、0）体心格子含有两个结点（ 0、0、0） （1/2 、1/2 、1/2 ）面心格子含有四个结点 （0、0、0）（1/2 、 0、1/2 ） （1/2 、1/2 、0） （0、1/2 、1/2 ）底心格子含有两个结点（ 0、0、0） （1/2 、0、1/2）或（1/2 、1/2 、0） （0、1/2 、1/2 ）3. 倒易点阵的两条基本性质？a. 倒易点阵矢量和相应的正点阵中同指数晶面相互垂直，长度等于该平面族的面间距倒数。b. 倒易点阵矢量于正点阵矢量的标积必为整数。4. 何为K,K射线？哪种强度大？哪种波长短？为何K射线包含1K和2K？K是 L 层电子跳入 K层空位时发出的X射线；K是 M层电子跳入 K 层空位时发出的X 射线。由于是 L层电子比 M层的跳入 K层空位的几率大，因此K射线比K射线强度大；根据hchvE可知K射线比K射线波长长， X 射线用的是K射线。实际上K射线是由1K和2K组成的，它们分别是电子从23,LL能级跳入K 层空位时产生的，由于23,LL的能量差很小，所以1K和2K线的波长很相近，都以K代替 . 5. 什么方向是晶体对X射线的衍射方向? 即是相互干涉最大的加强方向，即光程差为波长整数倍的那几个特定的方向。6. 布拉格方程的由来、表达、阐明的问题及所讨论的问题？由 来 ： 根 据 相 邻 原 子 面 间 反 射 线 的 光 程 差sin2d满足产生衍射的条件即为波长的整数倍 ，才 使 干 涉 加 强 形 成 衍 射 ，得 到布 拉 格 方 程nd sin2；它阐明了产生衍射的条件。讨论的问题：1）属于选择反射，由于1sin可得ddn2sin2，所以一组晶面只能在有限的几个方向反射X 射线，即衍射级数n 是有限的； 2）当把晶面族（ hkl ）n级看成是晶面族（nh nk nl ）的一级衍射时，布拉格方程可写成sin2d；只有晶面间距大于2的晶面才能产生衍射。3）由于d2，当减少时，增加了小晶面间距的衍射。7.X 射线衍射束的相对积分强度与什么因素有关？X 射 线 衍 射 束 的 相 对 积 分 强 度 的 公 式 ：cossin/ )2cos1(2222vPeFI即与多重因子P，结构因子F，角因子，温度因子等因素有关。9.X 射线衍射精测晶胞参数的基本思路？精测峰位的基本方法？思路： 为获得晶胞参数，首先知道各衍射峰的角位置2，由布拉格方程sin2d得出 d，根据面间距 公 式22222221clbkahd可 得 出 晶 胞 参数。为使晶胞参数精确测定， 将布拉格方程式微分得：ctgdd修正的方法有图形外推法、最小二乘法、内标法；测量时应注意1）选用高角度衍射线， 使0；2）尽量减小的测量误差，使尽量小。基本方法： 峰顶法、半高宽法、中心线法、三点抛物线法以及质心法。10. 利用 X 射线衍射精测晶粒大小与点阵畸变的基本原理是什么？基本原理1：由于干涉函数2G的主峰角宽度反比于参加衍射的晶胞数N晶体尺寸较小，N就很小，衍射线会宽化。 基本原理2：晶格中不均匀应变等晶体缺陷的存在也会使衍射线宽化，因为不均匀应变使晶体内各处的点阵常数有所变化，衍射角2也就有微小差异。11.X 射线衍射线形的宽度表示方法有哪几种？各自含义？被测试样衍射线的宽度包括哪几种宽度？近似函数法为何将这些宽度分离？宽度包括： 仪器宽度、物理宽度、试样宽度。分离的原因：常见峰形为高斯、柯西两种，不同峰形下的仪器宽度、物理宽度、试样宽度的误差不相同，且近似函数法的特点使选用适当的已知函数对两种效应的模拟。12. 电子束与物质相互作用可以获得哪些信息？a. 透射电子 b. 散射电子 c. 二次电子 d. 特征 X射线 e.俄歇电子 f. 阴极荧光 g. 吸收电子13. 衍射线的择优取向？原因？衍射线的择优取向是晶体中某一组晶面的定向排列，某一方向衍射线强度与其它衍射线强度之比不为1，反映的是定向排列的程度；是由于在制备、合成、加工处理等过程中，采用挤压、轧制、加压烧结、极化等工艺手段引起。14.X 射线衍射物相定性鉴定需要哪些数据？粉晶X射线衍射卡片（JCPDS ）检索手册的基本类型？编排方式？数据：各衍射线的衍射角、 把它换算成晶面间距d，再测出各衍射线的相对强度。编排方式 ：哈那瓦特索引按强度递减; 芬克索引按 d 值递减； 字母索引按矿物的英文名称2 字母顺序。15. 进行混合相的X 射线衍射定兴分析时，应特别注意优先考虑的问题？1）d 值比相对强度重要；2）低角度的d 值比高角度的重要； 3）强线比弱线重要；4）特征线很重要；5）只能判断存在某物质而不能判断不存在物质，当某相含量很少时，峰不出现。16. X 射线衍射定量分析时分析线如何选择？若掺标准相，标准相如何选择？分析线的选择 ：分析线只有一条，要求：1）不与其他物相峰重叠，即孤立峰；2）有足够强度，最好是强峰； 3）无择优取向或强度失真。标准相的选择 ：1）纯样； 2）有一个强峰与分析峰靠近，且不与其他峰重叠；3）化学性质稳定，不氧化、不吸水、不受研磨影响。4）粒度性质与待测样类似。17. 晶格畸变引起衍射线形宽化与微晶引起衍射线形宽化各自遵循的规律？1）晶格畸变的测定：4ctgctgdd微晶大小的测定：cos/KDhkl2）微晶宽化与畸变宽化的区别 ：A.用不同的波长辐射测试，若线宽随波长变化，则为微晶细化引起；B.用不同衍射级的线宽观察各线宽随的变化，若cos为常数，则由微晶细化引起；若ctg或ctgE为常数，则由畸变、应力宽化引起。18. 透射电子显微图像包括哪几种类型？产生机制？图像包括： 质厚衬度像、衍射衬度像和相位衬度像。产生机制：a. 质厚衬度像： 是由于非晶试样中各部分厚度和密度差别导致对入射电子的散射程度不同而产生的衬度。b. 衍射衬度像： 是基于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度。c. 相位衬度像：是通过引入附加相位差，使散射波改变 ，则透射波与合成波的振幅有较大差别，从而产生相位衬度。20. 散射衬度与什么因素有关？这种图像主要用来观察什么？散射衬度与物质得原子序数、组成、厚度等因素有关，主要用来观察非晶体形貌和分布。21. 为什么试样上质厚衬度大的地方图像上显得暗？而小的地方显的亮？公式：1）QteII02）AaNaNQ/)()(0 3)tQIIC/由上述公式可得电子束穿透试样后在入射方向的电子数，即散射角小于能通过光阑参与成像的电子数，随tQ和tP的增加而衰减，而衬度tQC，所以试样上质厚衬度大的地方图像上显得暗，而小的地方显的亮。22. 衍衬像的衬度使怎么形成的？利用这种图像可观察什么？产生 ：是由于晶体薄膜内部各部分满足衍射条件的程度不同从而使各晶面的衍射强度不同而产生衬度。利用此图像可观察晶体种的位错、层错、空位团等晶体缺陷。23. 何谓明场像？何谓暗场像？明场像指用光阑挡住衍射束，让透射束成像，有衍射处暗，无衍射处亮。暗场像指用光阑挡住透射束，让衍射束成像，有衍射处亮，无衍射处暗。24. 电子衍射与X 衍射相比有何特点？电子衍射布拉格方程说明的问题？电子衍射的方法？特点： 1）电子束波长短2）电子衍射强度大3）电子透射能力低4）倒易点阵变成倒易杆5）试样要求很薄 6)电子束反射球的半径大布拉格方程：LRd它说明了若L已知，则可由衍射斑点的R 值计算出对应该衍射斑点的晶面族（hkl ）的 d 值。方法： a. 选区电子衍射b. 微束电子衍射 c. 高分辨电子衍射d. 高分散性电子衍射e. 会聚束电子衍射25. 电子衍射斑点花样几何图形？粉晶花样图形？电子衍射 1）正方形立方、 四方晶系 2）正六边形六方、三方、立方晶系3）有心矩形除三斜以外的晶系4）矩形除三斜以外的晶系5）平行四边形七大晶系粉晶为一系列不同半径的同心圆组成的圆环。26. 电子衍射物相分析与X 射线物相分析有何异同？1）. 电子衍射物相分析微区分析A.分析灵敏度高B.可以得到有关晶体取向关系的资料 C.电子衍射物相分析可与形貌结合进行得到相关物相的大小、形态何分布. 2）X射线物相分析统计的A.d 值由晶体结构决定， 与实验条件无关B.可直接鉴定物相 C.只对晶体有效27. 根据电子衍射的强度公式解释厚度条纹和弯曲消光条纹？电子衍射强度公式：)/()(sin22222SgstIga. 厚度条纹是由于试样的非均匀减薄引起的，同一厚度处等衬度。同一条纹处对应相同厚度，每一亮暗周期代表一各消光距离；当试样厚度一定时，衍射强度随偏移矢量呈周期性变化。振动周期为：tS13 b. 弯曲消光条纹是由于电子束打在试样上，试样受热变形产生的；若偏移矢量不变，衍射强度随试样厚度呈周期性变化，周期为：st128. 何谓二次电子？扫描电镜中二次电子像的衬度与什么因素有关？最适宜观察什么？二次电子 是单电子激发中被入射电子轰出的试样原子核外电子。扫描电镜中二次电子的衬度是形貌衬度，主要取决于 试 样 表 面 相 对 于 入 射 电 子 束 的 倾 角 ， 即 ：cos)(0其中0为00时的二次电子发射系数，由此可得，随着试样表面倾角增加，二次电子发射系数增加。 二次电子像适合观察粗糙表面和断口的形貌。29. 何谓背散射电子？扫描电镜中背散射电子像的衬度的影响因素？最适宜观察什么？背散射电子 电子入射试样后，受到原子的弹性和非弹性散射， 由一部分电子的总散射角大于90 度，重新从试样表面逸出，这部分电子称为背散射电子。背散射电子衬度与试样的表面形貌以及原子系数有关，因为背散射电子的发射系数0IIn随原子序数的增大而增大；而当试样表面倾角增加时，作用体积改变，背散射电子的发射系数也随之增打。背散射电子像是用来研究样品的表面形貌和成分分布。30. 扫描电镜中为什么二次电子像比背散射电子像的分辨率高？原因 ：背散射电子的能量大，运动方向基本不受弱电场的影响，沿直线前进，因而成像时有较重的阴影效应。而二次电子能量小，加上一各弱电场可以把二次电子吸过来，所以二次电子没有明显的阴影效应。31. 电子探针X 射线显微分析有哪两类？具体分析方法？波谱分析和能谱分析两大类, 方法 ：定点分析（定性、定量） ，线分布分析，面分布分析。32. 比较 X射线波谱分析与能谱分析的异同？1）分析范围：波谱924 UBe能谱9211 UNa2）分辨率：用谱峰半高宽表示，波谱ev5能谱ev155145所以波谱分析比能谱分析分辨率高。3）探测极限波谱%1.001.0能谱%5.01.04）X 光子的收集效率波谱的探测效率低，样品要求磨平，表面光滑。能谱的探测效率高，样品无要求5） 典 型 数 据 收 集 时 间波 谱min10能 谱mi n326）定量准确度波谱高于能谱33. 振动光谱有哪两种类型？价键或基团的振动有些类型？哪种振动的频率较高、较低？振动光谱有红外吸收光谱和拉曼散射光谱。价键或基团的振动的有：1）伸缩振动A.对称伸缩振动 B.非对称伸缩振动2） 弯曲振动 A. 变形振动 B.面内弯曲 C.面外弯曲 D.扭曲振动频率的高低： 伸缩振动 弯曲振动非对称伸缩振动对称伸缩振动35. 何谓红外光谱？红外光谱图的表示方法？红外光谱图的中轰外区在什么频率范围？这个区域适合研究什么类型的物质？红外光谱 连续的红外光与分子相互作用时，若分子中原子的振动频率恰与红外光波段的某一频率相等时就引起共振吸收，形成吸收谱带，若用适当的方法把透过光按波长及强度记录下来，就形成红外吸收光谱。红外光谱谱图的横坐标为波数（cm-1）, 纵坐标为强度（以透过率表示）红外光谱的四个表征：1）谱带的数目 2）吸收带的位置 3）谱带的形状4）谱带的强度红外光谱的中红外区所处的频率范围为4004000 cm-1，大多数有机和无机化合物的分子振动频率处在这个区域内，因而适合研究结构基因、化合物纯度的鉴定以及无机物的聚合度、配位数等。36. 说明红外光谱的产生机理和条件？机理 ：红外光照射物质时，光与物质相互作用使分子吸收了红外光中与分子间振动