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SPC培训考试部门:姓名:分数:一、填空题:(每空05分,共25分)1. SPC是英文Stat is ti cal Process Con tr ol的前缀简称,即统计过程控制,也称为统计制程管制。2. CL表示管制中心限;UCL表示上控制界限 ;LCL表示下控制界限。3. Ca表示 准确度 ;Cp表示 精密度 :CPK表示 制程能力 。4. PPM是指制程中所产生之 百万分之不良数,DPM是指制程中所产生之 百万分之缺点数。Defect PerMillion pcs卖出的产品中发生故障的百万分比5. 品管七大手法分别是 杳检表 、柏拉图、特性要因图、 散布图、管制图、直方图、层别法。6. 实施SPC能够帮助企业在质量控制上真正作到“事前”预防和控制。7. 控制图的基本类型按数据类型分为 计量值控制图 和 计数值控制图。& 丄方图是以一组无间隔的直条图表现频数分布特征的统计图,能够直观地显示出数据的分布情况。9. 如过程历史数据计算的AVERAGE=5,。=0.2,过程目标值=5.1,则LCL是 4.4 , CL 是 5.0, UCL是5.6。10. 使用控制图,对数据讲行分组的基本原则是组内变异小、组间变异大。11. 一般企业的瑕疵率大约是3到4个西格玛,以4西格玛而言,相当于每一百万个机会里,有6210次误差。 如果企业不断追求品质改进,达到西格玛的程度,绩效就几近于完美地达成顾客要求,在一百万个机会 里,只找得出3.4个瑕疵。12. 计算CP,CPK时数据量不得少于25组。13. 影响过程的主要因素有人、机、 料 、 法 、 环 、 测 。14. 对于普通原因的波动通常需要采取系统措施。15. 日常工作中,將X-Bar控制图与R控制图联合使用,较为方便有效。16. 当过程处于受控状态时,过程只受普通因素 的影响,过程特性的波动具有统计规律性。当过程处于失控 状态时,过程受到特殊因素的影响:波动偏离原来的规律。17. 日常牛产和服务中常见的波动分布有正态分布、二项分布、泊松分布。18. 若直方图符合正态分布,说明过程处于稳定受控状态。19. 若直方图出现孤岛型、偏向型等非正态分布,说明过程中有异常因素作用,应杳明原因。20. 当X-MR图中有连续9个点落在中心线同一侧时,说明过程处于失控状态。21. 当控制图中有连续14点交替升降时,说明过程处于失控状态。22. 当控制图中有连续6点上升或下降时,说明过程处于 失控状态。23. “。”指标准差,是用来衡量一个总数里标准误差的统计单位。24. 在“3。”原则下,控制点落在片3。到卩+3。之间的概率是99.73% 。25. SPC执行成功的最重要条件是Act ion ,即针对变差的特殊原因和普通原因分别采取措施。二、选择题:(每题1分,共15分)1将收集的测定值或数据之全距分为几个相等区间作为横轴,并将各区间内之测定值所出现次数累积而成的面积以条状方式排列起来所产生的图形,称之为A:.柏拉图B:直方图C:管制图D:层别法2. 以下哪种直方图的形态表现为缺齿形_。A:原料之微小变异 B:机械之微小振动C:仪器测定时不十分精确之作法D:新手之作业员4. 生产部生产某一产品时,用快速检测夹具检测高度和同轴度,应该使用(B )控制图AXbar-R chartB. np chartC. c chartD. Xbar-s chart 不变的样本?5漏焊、未焊满、气孔、焊渣等指的是( B )A.不良B.缺陷C.产品D. OQA reject6. 检验员每小时用高度仪检测轴的高度后,所收集的数据应该用(A )控制图。A.Xbar-R chartB. np chartC. u chartD. Xbar-s chart7. 以下哪个选项不属于过程的重要输入(C )A自动粘和机B.净化室C.控制图D.操作工8. ( a )负责组织对产品不良及过程不良进行原因分析,并制订对策,相关部门配合执行对策,(a )对对策 执行情况进行监督。a.质检部 b.生产部 c.技术部 d.采购部 e.市场部9. 初始能力研究时:样本大小一般至少为(c )个数据以上。a.30b.50c.100d.125e.8010. 过程能力研究时:每(a)小时抽取(e )件,每班填写一张能力测算表单。a.1b.2c.3d.4e.511. 以下过程能力要求中,(ad )符合客户要求。a. PPK1.67b. 1.33WPPKW1.67 c. PPKV1.33 d. CPK21.33 e. CPKV1.3312. 在汽车行业中,不属正态分配之数据,可依顾客之需求,采用( a )法。a.PP M值b.合格率c.柏拉图d.直方图13. 对过程能力进行持续不断地改善,具体可以系统性从以下( ab )方面入手。a)调整过程加工之分布中心,减少偏移量。b)提高过程作业水平,减少分散程度。c)修正上下控制限范围。14. 当客户有要求较高或较低之过程能力时,应在相应的( b )予以注明。a.FMEAb.控制计划c.作业指导书d.特殊特性清单15. ( a )负责进行过程能力统计以及数据分析。a.质检部 b.生产部 c.技术部 d.采购部 e.市场部三、判断题(对,错X;每题1分,共15分)1. ( X )做初始能力研究时,Cp大于1.33,这台机器能力可以接受了。?2. ( X)只有超出USL和LSL才需要采取措施。3. ( X )没有超出控制界限的点,过程能力是可接受的。4. ( X )特殊特性的选择应由企业按产品/过程中特性的重要程度来制定,并没有绝对的正确与否。5. ( X )在绘制控制图时,不管采取何种方法,均应注意控制图应能显示过程受控,否则不能计算过程能力。?6. ( X ) P图控制法适用于对所有的计数型数据做统计过程控制。7. () 1924年,美国的品管大师休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”(亦称为:Shewhart控制图或3。控制图。即:一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程 能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形)。通过对过程变差进行控制,为统计质量管理奠定了理 论和方法基础。8. ( X )因为X(bar)-R图最为精确和敏感,较其它方法优势更强,因此大多数企业都选择使用该方法。9. ()特殊原因都是恶性的,都应该进行剔除。10. ( X )当过程能力较高时,为降低成本,采取方法使之降低11. ()当过程能力不足时,为提高过程能力,应进一步减小普通原因和特殊原因造成的变差。12. ( X ) Ppk用于批量生产时对过程能力分析,Cpk用于批产前对过程能力的分析。13. ( )正确使用统计技术,能达到早期预防或及时提出矫正措施并得以及时改善的目的。14. ( X )控制计划规定的特殊特性都应做统计过程控制一SPC。15. ()重要过程事件(如工具变更,机器修理等)须摘记于相应之丁 -R控制图及/或直方图上。四、名词解释(每题3分,共30分)1、变差: 过程的单个输出之间不可避免的差别;变差的原因可分为两类:普通原因和特殊原因。固有变差:仅由普通原因造成的过程变差,由6 = R/d2来估计。 总变差:由普通原因和特殊原因共同造成的变差,用6s来估计。2、特殊特性: 可能影响安全性或法规的符合性、配合、功能、性能或产品后续生产过程的产品特性或制造过程参数3、控制限:控制图上的一条线(或几条线),作为制定一个过程是否稳定的基础。如有超出了控制极限变差存在,则证明过程 受特殊因素的影响。控制限是通过过程数据计算出来的,不要与工程的技术规范相混淆。4、过程:一组将输入转化为输出的相互关联或相互作用的活动。过程是向过程的顾客(内部的和外部的)提供产品或服务 的增值活动链。注:A) 个过程的输入通常是其它过程的输出。B) 组织为了增值通常对过程进行策划并使其在受控条件下运行。C) 过程的资源通常包括:人员、资金、设施、设备、材料、技术和方法。5、过程能力:一个稳定过程的固有变差(66: R/d2 )的总范围6、Cpk (稳定过程的能力指数):为一稳定过程【某一天、某一班次、某一批、某一机台其组內的变差(R-bar/d2 or S-bar / C4 )】短期下的“能力指数”,计算时须同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。即:通常定义为CPU 或CPL中的最小值。7、Ppk (性能指数,即初期过程的性能指数):为试生产阶段一项类似于Cpk的能力指数,某一产品长期监控下的“能力指数”;但本项指数的计算,是以新产 品的初期过程性能研究所得的数据为基础。即:通常定义为PPU或PPL中的最小值。8、PPM (质量水准,即每百万零件不合格数):指一种根据实际的有缺陷材料来反映过程能力的一种方法。PPM数据常用来优先制定纠正措施。9、Xbar,R,。(需列出计算公式):Xbay :均值(一般指子组均值);R:极差,R MaxX MinX/ d 2n -110、正态分布: 呈以标称值为中心、左右对称的倒钟形分布。一般地说,计量值质量特性,如尺寸、重量、强度温度、时间等,都有相似的分布状态:正态分布五、问答题(每题5分,共15分)1、控制图应用在什么条件下可以由分析阶段转入控制阶段?答:控制图应用由分析阶段转入控制阶段应满足的条件: 、控制图是受控的; 、过程能力能够满足生产要求。2、什么时候应该重新计算控制图的控制界限?答:、控制图是根据稳定状态下的条件(人员、设备、原材料、工艺方法、测量系统、环境)来制定的。如果上述条件变化,则必须重新制定控制图; 、一定时间后检验控制图还是否适用; 、过程能力值有大的变化时。3、请分别写出常用的三种计量型控制图和计数型控制图的简称、符号及主要用途和特点。 答:答:常用的五种计量型控制图的简称为: 、平均数与极差控制图(X - R Chart); 、平均数与标准差控制图(X - q Chart); 、中位数与极差控制图(X-R Chart); 、个别值与移动极差控制图(X - Rm char t); 、最大值与最小值极差控制图(L - S char t)。常用的四种计数型控制图的简称为: 、不良率控制图(P chart ); 、不良数控制图(Pn chart,又称np chart或d chart ); 、缺点数控制图(C chart ); 、单位缺点数控制图(U chart )。
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