磁场强度的测量和屏蔽效率的计算C.1 一般原则磁场强度指标（ 1） GB/T2887 和 GB50174中规定，电子计算机机房内磁场干扰环境场强不应大于800A/m。注：本磁场强度是指在电流流过时产生的磁场强度，由于电流元Is产生的磁场强度可按下式计算：H = Is/4 r 2（C.1）距直线导体 r 处的磁场强度可按下式计算：H = I/2 r（ C.2 ）磁场强度的单位用A/m表示， 1A/m相当于自由空间的磁感应强度为1.26 T。T（特斯拉） 为磁通密度 B的单位。 Gs是旧的磁场强度的高斯CGS单位，新旧换算中，1Gs约为 79.5775A/m ，即 2.4Gs约为： 191A/m， 0.07Gs 约为 5.57A/m 。（ 2） GB/T17626.9 中规定，可按下表规定的等级进行脉冲磁场试验：C.1 脉冲磁场试验等级等级12345脉冲磁场强度 A/m1003001000特定注： 1.脉冲磁场强度取峰值。2.脉冲磁场产生的原因有两种，一是雷击建筑物或建筑物上的防雷装置；二是电力系统的暂态过电压。3. 等级 1、2：无需试验的环境；等级 3 ：有防雷装置或金属构造的一般建筑物，含商业楼、控制楼、非重工业区和高压变电站的计算机房等；等级 4：工业环境区中，主要指重工业、发电厂、高压变电站的控制室等；等级 5：高压输电线路、重工业厂矿的开关站、电厂等；等级：特殊环境。（ 3）GB/T2887 中规定，在存放媒体的场所， 对已记录的磁带， 其环境磁场强度应小于 3200A/m；对未记录的磁带，其环境磁场强度应小于4000A/m。信息系统电子设备的磁场强度要求1971年美国通用研究公司R.D希尔的仿真试验通过建立模式得出：由于雷击电磁脉冲的干扰，对当时的计算机而言，在无屏蔽状态下，当环境磁场强度大于0.07G S时，计算机会误动作；当环境磁场强度大于2.4GS时，设备会发生永久性损坏。按新旧单位换算，2.4 G S约为 191A/m，此值较的（ 1）中 800A/m低，较表 C.1 中 3等高，较 4等低。注：IEC62305-4 （ 81/238/CDV ）文件中给出在适于首次雷击的磁场（25KH2）时的1000-300-100A/m 值及适用于后续雷击的磁场（1MH2）时的 100-30-10A/m 指标。磁场强度测量一般方法（ 1）雷电流发生器法IEC 62305-4 提出的一个用于评估被屏蔽的建筑物内部磁场强度而作的低电平雷电电流试验的建议。（ 2）浸入法GB/T17626.9 规定了在工业设施和发电厂、中压和高压变电所的在运行条件下的设备对脉冲磁场骚扰的抗扰度要求，指出其适用于评价处于脉冲磁场中的家用、商业和工业用电气和电子设备的性能。（ 3）大环法GB12190规定了屏蔽室屏蔽效能的测量方法，主要适用于各边尺寸在1.5m 15m之间的长方形屏蔽室。（ 4）交直流高斯计法GB/T 2887 中条“磁场干扰环境场强的测试”中指出可使用交直流高斯计，在计算机机房内任一点测试，并取最大值。屏蔽效率的计算屏蔽效率的测量一般指将规定频率的模拟信号源置于屏蔽室外时，接收装置在同一距离条件下在室外和室内接收的磁场强度之比，可用下式表示：SH = 20Lg （H0/H 1）(C.3)式中：H0 没有屏蔽的磁场强度H1 有屏蔽的磁场强度S 屏蔽效率（能），单位为 dB。H屏蔽效率与衰减量的对应关系参见表C.2 ：C 2 屏蔽效率与衰减量的对应表屏蔽效率（ dB）原始场强屏蔽后的场强比衰减量（ %）2011/10904011/100996011/100099.98011/1000099.9910011/10000099.99912011/100000099.9999C.2 测量方法和仪器雷电流发生器法试验原理见图C.1 所示，雷击电流发生器原理见图C.2 所示。C 1雷电流发生器法测试原理图多重馈线雷电通道闭合部分的模拟（ 10m高铁杆）2被屏蔽的建筑物1与建筑物屏蔽物多重连接的接地体图中： 1磁场测试仪2雷击电流发生器RLCUU ： 电压典型值为数10kvC：电容典型值为数10nF图 C.2 雷电流发生器原理图在雷电流发生器法试验中可以用低电平试验来进行，在这些低电平试验中模拟雷电流的波形应与原始雷电流相同。IEC标准规定， 雷击可能出现短时首次雷击电流 i f（ 10/350 s）和后续雷击电流 i s（0.25/100 s）。首次雷击产生磁场 Hf ，后续雷击产生磁场 Hs，见图 C.3 和图 C.4 ：H f （ t）H f/max10stT p/fC.3首次雷击磁场强度（10/350 s）上升期的模拟H s（t ）Hs/max0.25sTp/stC.4后续雷击磁场强度（0.25/100s）上升期的模拟磁感应效应主要是由磁场强度升至其最大值的上升时间规定的，首次雷击磁场强度Hf 可用最大值 Hf/max （25KHz）的阻尼振荡场和升至其最大值的上升时间T p/f (10 s、波头时间) 来表征。同样后续雷击磁场强度Hs可用 Hs/max（ 1MHz）和 Tp/s （ 0.25 s）来表征。当发生器产生电流i o/max 为 100kA，建筑物屏蔽网格为2m时，实测出不同尺寸建筑物的磁场强度如表 C.3 ：C.3不同尺寸建筑物内磁场强度测量实例建筑物类型建筑物长、宽、高、m（ L WH）H1/max （中心区）A/mH1/max （dw = ds/1 处） A/m12310 10 1050 50 1010 10 501793680447447200注： H1/max LPZ1区内最大磁场强度；dw 闪电直击在格栅形大空间屏蔽上的情况下，被考虑的点LPZ1区屏蔽壁的最短距离；ds/1 闪电击在格栅形大空间屏蔽以外附近的情况下，LPZ1区内距屏蔽层的安全距离。浸入法GB/T17626.9 （ idt IEC 61000-4-9）对设备进行脉冲磁场抗扰度试验中规定：受试设备（ EUT）可放在具有确定形状和尺寸的导体环（称为感应线圈）的中部，当环中流过电流时， 在其平面和所包围的空间内产生确定的磁场。试验磁场的电流波形为6.4/16 s的电流脉冲。试验过程中应从x、 y、 z三个轴向分别进行。由于受试设备的体积与格栅形大空间屏蔽体相比甚小，此法只适于体积较小设备的测试和在矮小的建筑物屏蔽测量时可参照使用。具体方法见大环法GB/T17626.9 。GB12190高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法规定了高性能屏蔽室相对屏蔽效能的测试和计算方法，主要适用于1.5 15.0m之间的长方形屏蔽室，采用常规设备在非理想条件的现场测试。为模拟雷电流频率，在测试中应选用的常规测试频率范围为100Hz 20MHz，模拟干扰源置于屏蔽室外， 其屏蔽效能计算公式如本标准附录C.3 式。测试用天线为环形天线，并提出下列注意事项：（ 1）在测试之前，应把被测屏蔽室内的金属（及带金属的）设备，含办公用桌、椅、柜子搬走。（ 2）在测试中，所有的射频电缆、电源等均应按正常位置放置。大环法可根据屏蔽室的四壁均可接近时而采用优先大环法或屏蔽室的部分壁面不可接近时而采用备用大环法。现将备用大环法简要介绍如下：（ 1）发射环使用频段 I （100Hz200kHz）的环形天线。（ 2）当屏蔽室的一个壁面是可以接近时，将磁场源置于屏蔽室外， 并用双绞线引至可接近的壁，沿壁边布置发射环，环的平面与壁面平行，其间距应大于25cm。可将发射环固定在壁面上。（ 3） 磁场源由通用输出变压器、常闭按纽开关、具有1W输出的超低频振荡器、热电偶电流表组成。（ 4） 屏蔽室内置检测环，衰减器和检测仪，其中检测环的直径为300mm。（ 5） 当检测仪采用高阻选频电压表时，SH = 20Lg （ V0/V 1）（ C.4 ）其他测量方法以当地中波广播频点对应的波头做为信号源，将信号接收机分别置于建筑物内和建筑物外，分别测试出信号强度E0和 E1。用下式计算出建筑物的屏蔽效能：SE = 20lg（ E0/E 1）（ C.5）测试时， 接收机应采用标准环形天线。当天线在室外时，环形天线设置高度应为0.6m 0.8m，与大的金属物，如铁栏杆，汽车等应距1m以外。当天线在室内时，其高度应与室外布置同高，并置在距外墙或门窗3 5m远处。室内布置与大环法的要求相同。用本方法可测室内场强（A2）和室外场强（A1）, 屏蔽效能为其代数差（A1 A2）。可使用专门的仪器设备（如EMP-2或 EMP-2HC等脉冲发生器）进行与备用大环法相似的测试，其区别于备用大环法的内容有：（ 1）脉冲发生器置于被测墙外约3m处。发生器产生模拟雷电流波头的条件，如10 s、 0.25s及 2.6 s、 0.5 s。发生器的发生电压可达5kV 8 kV ，电流 419kA。（ 2）从被测建筑物墙内 0.5m起，每隔 1m直至距内墙 5 6m处每个测点进行信号电势的测量。如被测房间较深，在 5 6m处之后可每隔 2m（或 3m、4m）测信号电势一次，直至距被测墙体对面墙的0.5