科恩马特殊过程装备(常熟)有限公司KNM SPECIAL PROCESS EQUIPMENT (CHANGSHU) CO.,LTD.超声波检测通用工艺 Tech nics Regulati on for Ultras onic Testi ng作业指导书Operati on Guidebook编制 Prepared By :审核 Checked By :批准 Approved By :第1页共32页超声检测通用工艺规程1 一般要求1 General Requirements1.1 主要内容与适用范围1.1 Scope1.1.1 本规程规定了检测人员资格、仪器、探头、试块、检测范围、检测方法和质量分级等。1.1.11.4.2.1 本规程按 JB/T 4730.3编制，采用 A 型脉冲反射式超声探伤仪器，适用于压力容器的钢板、锻件和 焊接接头的检测。符合压力容器安全技术监察规程 、GB 150 等要求。1.4.2.2 检测工艺卡是本规程的补充。由n级人员按合同及本规程编制，其参数规定得更具体。1.2 规范性引用文件JB /T4730.12005承压设备无损检测第 1 部分：通用要求JB/T 4730.32005承压设备无损检测第 3 部分：超声检测GB 1501998钢制压力容器JB/T 7913 1995超声检测用钢质对比试块的制造和校验方法JB/T 9214 1999A 型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法JB/T 10061 1999A 型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件JB/T 10062 1999超声波探伤探头性能测试方法JB/T 100631999超声探伤用 1 号标准试块技术条件 检测人员1.5.1 检测人员必须经过培训，按特种设备无损检测人员考核与监督管理规则的要求，经理论和实际考试合格，取得相应的等级资格证书。检测由n级人员进行，i级人员仅作检测的辅助工作。5.01.5.2 检测人员每年应检查一次身体，其未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于 （小数记录值为 1.0）。 仪器、探头和试块1.6.1 仪器和探头使用汕头超声仪器厂生产的 CTS-2000 型仪器和友联公司生产的 PUXT-3300 和 PUXT-U1 型仪器。（ 1 ）探伤仪第 2 页 共 32 页采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为0.5MHz10MHz，仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。探伤仪应具有 80dB以上的连续可调衰减器，步进级每挡不大于2dB，其精度为任意相邻12dB的误差在1dB以内，最大累计误差不超过1dB。水平线性误差不大于 1%,垂直线性误差不大于 5%。其余指标应符合 JB/T 10061 的规定。（2）探头2.2.2 晶片面积一般不应大于 500mm2，且任一边长原则上不大于25mm。2.2.3 单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2,主声束垂直方向不应有明显的双峰。（3）超声探伤仪和探头的系统性能2.5.1 在达到所探工件的最大检测声程时,其有效灵敏度余量应不小于10dB 。2.5.2 仪器和探头的组合组合频率与公称频率误差不得大于10%。2.5.3 仪器和直探头组合的始脉冲宽度 （在基准灵敏度下） ：对于频率为 5MHz 的探头,宽度不大于 10mm； 对于频率为 2.5MHz 的探头,宽度不大于 15mm。2.5.4 直探头的远场分辨力应不小于30dB，斜探头的远场分辨力应不小于6dB。2.5.5 仪器和探头的系统性能应按JB/T 9214和JB/T 10062的规定进行测试。1.6.2 试块(2) 标准试块（1）标准试块是指本规程规定的用于仪器探头系统性能标准和检测校准的试块,本规程采用的标准 试块有：(1) 钢板用标准试块： CBI、CBII ；(2) 锻件用标准试块： CSI、CSII、CSIII ；(3) 焊接接头用标准试块： CSK-IA 、CSK-IIA 、CSK-IIIA 、 CSK-IV A。（2）标准试块应采用与被检工件声学性能相同或近似的材料制成,该材料用直探头检测时,不得有大于或等于0 2mm平底孔当量直径的缺陷。（3）标准试块尺寸精度应符合本规程的要求,并应经计量部门检定合格。（4） 标准试块的其他制造要求应符合JB/T 10063 和 JB/T 7913 的规定。(3) 对比试块（1）对比试块是指用于检测校准的试块。（2）对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征,试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉 及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测,试块的厚度应由其最大厚度来确定。（3）对比试块反射体的形状、尺寸和数量应符合本规程的规定。第 3 页 共 32 页 检测的一般方法(1) 扫查覆盖率检测时，探头每次扫查的覆盖率应大于探头直径的 15% 。(2) 探头的移动速度探头移动的扫查速度不应超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限制。(3) 扫查灵敏度扫查灵敏度不得低于基准灵敏度。(4) 耦合剂采用机油、糨糊、甘油、专用耦合剂和水等透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂。(5) 检测面的制备（1）承压设备的制造检验中，超声检测的检测时机及抽检率的选择等应按相关法规、标准及有关技 术文件的规定。（2）所确定的检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。（3）焊缝的表面质量应经外观检查合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物都应予以清除，其 表面粗糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的处 理。(6) 灵敏度补偿（1）耦合补偿。在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿。（2）衰减补偿。在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补 偿。（3）曲率补偿。对探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近的试块，通过对比试验 进行曲率补偿。 系统校准和复核2.9.2 仪器校准每隔三个月至少对仪器的水平线性和垂直性进行一次测定，测定方法按JB/T 10061 的规定进行。2.9.3 新购探头测定新购探头须有探头性能参数说明书，新探头使用前应进行前沿距离、K 值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等主要参数的测定。测定方法应按 JB/T 10062 的有关规定进行，并满足其要求。2.9.4 检测前仪器和探头系统测定（1）使用仪器斜探头系统，检测前应测定前沿距离、 K 值和主声束偏离，调节或复核扫描量程 第 4 页 共 32 页和扫查灵敏度。（2 ）使用仪器一一直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力，调节或复核扫描 量程和扫查灵敏度。164检测过程中仪器和探头系统的复核遇有下述情况应对系统进行复核：（1）校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时；（2）检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时；（3 ）连续工作4h以上时；（4）工作结束时。165检测结束前仪器和探头系统的复核（1 ）每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的 10%，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。（2）每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。一般对距离-波幅曲线的校核不应少于 3点。如曲线上任何一点幅度下降 2dB，则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检；如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。2承压设备钢板的超声检测2.1适用范围本条适用于板厚为 6mm250mm的碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测和质量分级。奥 氏体钢板、镍及镍合金板材以及双相不锈钢板材的超声检测也可参照本条执行。2.2探头选用2.2.1探头应按表1选用。表1承压设备用板材超声检测探头选用板厚，mm采用探头公称频率，MHz探头晶片尺寸620双晶直探头5晶片面积不小于150mm220 40单晶直探头514mm20mm40 250单晶直探头2.520mm25mm(1) 双晶直探头性能应符合JB/T 4730.3附录A （规范性附录）的要求。2.3标准试块2.3.1用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，采用如图1所示的CB I标准试块。2.3.2用单直探头检测厚度大于20mm的钢板时，采用如图2和表2规定的CB H标准试块。试块厚度应第5页共32页与被检钢板厚度相近。如经合同双方协商同意，也可采用双晶探头进行检测。6.3， 全部 一注：尺寸误差w 0.05 mmf141 118221810334611 40V408X 40图1 CB I标准试块全部3.2V3.2图2 CB n标准试块表2 CB n标准试块mm试块编号被检钢板厚度检测面到平底孔的距离 s试块厚度Tcb n -1 20 4015 20CB n -2 40 6030 40CB n -3 60 10050 65CB n -410016090 110CB n -5160200140 170CB n -6200250190 2202.4基准灵敏度241板厚不大于20mm时，用CB I试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50%，再提高10dB作为基准灵敏度。2.4.2板厚大于20mm时，应将CB n试块$ 5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为基准灵敏度。243板厚不小于探头的 3倍近场区时，也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与2.4.2的要求相一致。2.5检测方法(1) 检测面可选钢板的任一轧制平面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可选钢板的上、下两轧制平面分别进行检测。(2) 扫查方式(1)探头沿垂直于钢板压延方向、间距不大于100mm的平行线进行扫查。在钢板剖口预定线两侧各50mm (当板厚超过100mm时，以板厚的一半为准)内应作100%扫查，扫查示意图如图3所示。(2 )根据合同、协议书或图样的要求，也可进行其他形式的扫查。2.5.3耦合方式耦合方式可采用直接接触法或液浸法。2.6缺陷的测定与记录2.6.1在检测过程中，发现下列三种情况之一者即作为缺陷：(1)缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于满刻度的50%，即F1 50% ;第7页共32页3.7.2 当底面第一次反射波(Bi)波高未达到满刻度，此时，缺陷第一次反射波(Fi)波高与底面第 次反射波(Bi)波高之比大于或等于 50%，即Biv 100%，而Fi/ Bi 50%;3.7.3 当底