WORD完美格式无损检测通用工艺规程编制： 审核：批准：日期：目录第1章编制说明3第2章 射线检测通用工艺规程 .5第3章 超声波检测通用工艺规程 .21第1节 承压设备对接焊接接头超声检测及质量分级 .24第2节承压设备钢板超声检测及质量分级.29第3节承压设备用钢锻件超声检测及质量分级 .32第4章 磁粉检测通用工艺规程 .35第5章渗透检测通用工艺规程 39第6章工艺卡附表.44第1节射线检测工艺卡 .44第2节超声检测工艺卡 45第3节磁粉检测工艺卡 46第4节渗透检测工艺卡 47.整理分享.第一章编制说明1.1范围本规程规定了对金属原材料、零部件和焊接接头进行射线检测、超声检测、磁粉检测、 渗透检测的基本要求。本规程适用于本公司钢制压力容器产品的无损检测工作。1.2引用标准和编制依据下列标准包含的条文，通过在本规程中引用而构成本规程的条文，在规程出版时，所有版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本规程的各方应探讨使用下列标准最新 版本的可能性。压力容器安全技术监察规程（1999年版）GB150-1998钢制压力容器GB151-1999管壳式换热器JB/T4730.14730.6-2005承压设备无损检测特种设备无损检测人员资格考核实施细则放射卫生防护基本标准Q/JS.YLRQ-2008质量保证手册1.3人员资格及职责1.3.1从事无损检测的人员必须持有国家质量监察机构颁发的并与其工作相适应的资格等 级证书。1.3.2从事无损检测的人员校正视力不得低于 5.0,从事磁粉、渗透检测工作人员，不得有 色盲、色弱。1.3.3检测人员严格执行有关条例、规程、标准和技术规范，保证工作质量。1.3.4评片人员的视力应每年检查一次，要求距离400mm 能读出0.5mm的一组印刷体字 母。135检测操作人员必须按委托单要求并同时根据检测工艺规程进行操作，做好检测记录 及签发检测报告。133无损检测责任工程师的职责见岗位职责。1.4无损检测方法使用原则1.4.1射线和超声检测主要用于承压设备的内部缺陷的检测；磁粉检测主要用于铁磁性材 料制承压设备的表面和近表面缺陷的检测；渗透检测主要用于非多孔性金属材料和非金属材料制承压设备的表面开口缺陷的检测。1.4.2铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。1.4.3当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的 方法评定级别。1.4.4采用同种检测方法按不同检测工艺检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的 评定级别为准。第2章射线检测通用工艺规程2.1 适用范围2.1.1本规程适用于母材厚度2-400mm 碳素钢、低合金钢、不锈钢材料等制成的承压设 备焊缝及钢管对接环焊缝的射线检测。2.1.2射线检测技术等级选择应符合制造、安装的有关标准及设计图样规定。当技术条件没有注明时，承压设备及受压元件焊接接头的射线检测，一般采用NB/T47013.2-2015标准AB级射线检测技术。2.1.3其它零部件的射线检测可参照本规程进行。2.2 检测时机2.2.1当被探工件表面温度40 C或容器内部介质未被排放干净之前，均不能进行照相。2.2.2有延迟裂纹倾向的材料至少应在焊接完成24小时后才能进行检测。2.3 表面要求2.3.1焊缝及离其边缘30mm范围内不能有掩盖缺陷或与之相混淆的表面缺陷，如弧坑、 凹陷、焊瘤、高度突变的焊波、飞溅、溶渣，严重的机械损伤。否则检测人员有权要求委 托单位作适当的修整。2.3.2焊接接头须经焊接检查员检查合格，并在检测委托单上签名确认。2.4检测设备及仪器2.4.1 一般情况下尽量选用 X寸线探伤机透照，且至少应有 10%的管电压余量,当X寸线探伤机穿透力难以达到要求或摆放有困难时，可选用Y射线探伤机透照242观片灯的最大亮度应能满足评片的要求243黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过土 0.05。每一班工作前应进行验证，每6个月参照NB/T47013.2-2015 附录B的规定校验一次，并作好记录2.5胶片和增感屏的准备2.5.1 A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采 用T2类或更高类别的胶片。2.5.2用X射线探伤机透照时，一般采用前屏为0.03mm,后屏为0.1mm的铅箔增感屏,增感屏表面应平滑清洁、无灰尘、无污染、无划伤。2.5.3切片时把胶片与夹纸一起取出放在切片板上量好尺寸进行切片。2.5.4将去掉夹纸的胶片放在两增感屏之间一起插入暗袋（注意前后屏），套好袋盖。2.6像质计的选用及放置2.6.1线型像质计的型号和规格应符合 JB/T7902的规定，JB/T7902中未包含的丝号、线径等内容，应符合HB7684的有关规定。2.6.2像质计按透照厚度选用 NB/T47013.2-2015 表1、表2、表3选用表1像质计灵敏度值单壁透照、像质计置于源测应识别丝号（丝径，mm ）公称厚度（T）范围，mmA级AB级B级182.517 2.0 2.016 2.0 3.5 4 615 2.0 -3.5 3.5 5.0 6 814 3.5 -5.0 5.0 7 8 1213 5.07 7 10 12 2012 7-10 10 15 20 3011 10-15 15 25 30 3510 15-25 25 32 35 459 25-32 32 40 45 658 32 40 40 5565 1207 40 55 55 85120 2006 55 8585 150 200 350585150150 250 3504150 250250 3503 250 350 3502 350表2像质计灵敏度值双壁双影透照、像质计置于源测应识别丝号透照厚度（W）范围，mm（丝径，mm ）A级AB级B级182.517 2.5 2.016 2.0 3.0 4 615 2.0 3.0 3.0 2.5 6 914 3.0 2.5 2.5 7 9 1513 2.5 7 7 11 15 2212 7- 11 11 15 22 3111 11 15 15 22 31 4010 15 22 22 32 40 489 22 32 32 44 48 568 32 44 44 547 44 54表3像质计灵敏度值双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片测应识别丝号透照厚度（W）范围，mm（丝径，mm ）A级AB级B级16 2.0 3.5 4 615 2.0 3.5 3.5 5.5 6 1214 3.5 5.5 5.5 11 12 1813 5.5 11 11 17 18 3012 11 17 17 26 30 4211 17 26 26 39 42 5510 26 39 39 51 55 709 39 51 51 6470 1008 51 64 64 85100 1807 64 8585 125 180 300685125125 225 3005 125 225 225 3754 225 375 3753 375263不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合下表的规定像质计材料代号FeNiAl像质计材料碳钢或奥氏体不锈钢镍-铬合金工业纯铝适用材料范围碳钢、低合金钢、不锈钢镍及镍合金铝及铝合金2.6.4像质计一般应放置在射源一侧被检焊接接头的一端（被检区长度的1/4部位），金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，细丝置于外侧。一张胶片同时透照多条焊接接头时，像 质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。2.6.5单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双 影透照规定像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。2.6.6单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧，但应进行对比试验， 以保证实际使实际的底片灵敏度符合要求。像质计放在胶片侧时，应附加“F ”标记以示区别。2.6.7像质计的数量a. 平直纵缝透照每张片至少一个。b. 弧形纵缝透照每段至少三个（分别置于二端及中部）。c. 环缝中心法透照，至少在内壁上等间隔放置三个。d. 环缝偏心法透照，每段至少三个（分别置于二端及中部）。4.4、射线能量4.4.1、根据被检工件的厚度、材质选用不同的曝光参数，曝光参数应参照本机的曝光曲 线选取，不允许用提高管电压缩短曝光时间的方法照相，或凭经验任意选取曝光参数。X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量，WORD完美格式应符合本规程461的规定。NB/T47013.2-2015中规定了不同透照厚度允许的 X射线最高透照管电压.0对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过规定的X射线管电压，但对钢管电压增量不应超过50KV 04.5、射线源至工件表面的最小距离4.5.1、所选用的射线源至工件表面的距离 f应满足下述要求：AB级射线检测技术：f 10d b2/3B级射线检测技术：f 15d b2/34.5.2、采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合NB/T47013.2-2015 的要求,f 值可以减小，但 AB 级：f 5d b2/3 ,B 级：f 7.5d b2/3。4.5.3、 采用源在内单壁透照方式曝光时，只要得到的底片质量符合NB/T47013.2-2015 的要求，f值可以减小 但AB级：f 8d b2/3 ,B级：f 12d b2/3。4.6、曝光量461、x射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：AB级不小于15mA min ; B级不小于20mA min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。但